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扫描电路

扫描电路

本申请涉及扫描电路。通过确定电路设计的最小泄漏状态且接着选择使所述电路设计保持在其最低泄漏状态的逻辑门来选择用于q门控的特定逻辑门。取决于实施所述最小泄漏状态所需的输入,可将所述门选择为NOR或OR门。用经选择以实施所述最小泄漏状态的门实施的q门控可在选定操作模式期间启用。可用自动测试模式产生ATPG工具来确定电路的所述最小泄漏状态。

在框1010中,从ATPG向量集选择向量Vj,使得增益G(fi)的总和为最大值。此处,fi为由框1008中的Vj检测的故障集。

图2是说明用于测试逻辑电路的常规门控q设计的电路示意图。

上文所述的核测试模式实例和最高测试模式实例是本发明的特定方面,其中扫描链所消耗的泄漏电力针对具有CBDFT方法的设计而减少。尽管已描述了用于减少CBDFT实例中的扫描路径处的泄漏的方面,但应理解,这些方面也可应用于非基于CBDFT的设计,其中一个或一个以上扫描路径在测试模式期间为不活动。

在另一方面中,一种电路具有用于使测试向量移位到受测电路的装置。所述电路还具有多路复用器电路,其耦合到所述移位装置的输入。所述多路复用器电路包含启用输入,且经配置以在所述启用输入的断言后即刻将逻辑“0”输出到扫描路径输入。

图12是说明用于半导体组件(例如如上文所揭示的MLS产生电路)的电路、布局和逻辑设计的设计工作站的框图。设计工作站1200包含硬盘1201,硬盘1201含有操作系统软件、支持文件和例如Cadence或OrCAD等设计软件。设计工作站1200还包含显示器以促进电路1210或半导体组件1212(例如具有MLS产生电路的经封装集成电路)的设计。提供存储媒体1204,以用于有形地存储电路设计1210或半导体组件1212。电路设计1210或半导体组件1212可以例如GDSII或GERBER等文件格式存储在存储媒体1204上。存储媒体1204可为CD-ROM、DVD、硬盘、快闪存储器或其它适当装置。此外,设计工作站1200包含驱动设备1203,用于接受来自存储媒体1204的输入或将输出写入到存储媒体1204。

本发明大体上涉及集成电路设计。更具体地说,本发明涉及设计具有减少的泄漏电力的集成电路。

图12是说明根据本发明实施例的用于半导体组件的电路、布局和逻辑设计的设计工作站的框图。

背景技术

图9是根据本发明说明性实施例的用于实施扫描路径中的最小泄漏状态的电路的示意图。

图2中展示q门控的实例,其中OR(“或”)门202门控扫描触发器输出。当例如在移位操作期间断言移位线206时,OR门202将每一输入处的逻辑“1”驱动到逻辑锥204。因为到逻辑锥204的输入保持在逻辑“1”,所以逻辑锥204中的组合逻辑电路在移位操作期间并不来回切换,因此大幅降低动态电力消耗。

图7是常规扫描触发器的符号表示。

本发明的另一方面减少扫描路径处的泄漏。参看图9描述基于核的测试性设计(CBDFT)实例,以说明如何减少与扫描路径相关联的泄漏。可将CBDFT设计分为若干核902(仅展示其中一者)。在核测试模式下,一次可在一个核902上执行测试。

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